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赛可（SEC）X-RAY检测设备X-eye NF120 Series广泛应用于要求检测Sub-micron单位不良的半导体封装及Waffer level packaging（WLP)领域里。
更新日期：2024-08-23
型号：
厂商性质：生产厂家
赛可（SEC）X-RAY检测设备SF160F/N Series:用户可通过需求选择Dual CT功能(Oblique CT, Cone-beam CT)实现3次元（3D）影像中进行正确的分析出不良的种类，位置及大小。
更新日期：2024-08-23
型号：X-eye SF160F/N Series
厂商性质：生产厂家
赛可（SEC）X-RAY检测设备SF160ER Series ：搭载Micro-focus Open Tube (160kV) 和 Flat Panel Detector ，可获取高清晰，高倍率图像，可灵活应用在分析及工艺流程检中的缺陷检查。
更新日期：2024-08-23
型号：X-eye SF160ER Series
厂商性质：生产厂家
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